CF-00140G-RCS-01A 0.1 - 18GHz
CF-01040G-RCS-01A 1 - 40GHz
KELIANDA 0.1-40GHz近(远)场散射测量(RCS)系统
产品概述
我们为客户的应用场景、测试需求及场地实况为客户提供定制化的近(远)场散射测量系统。测量系统利用定位设备采集近场散数据,目标的辐射近区内进行散射数据采集,通过高效的近远场变换算法获得目标的远场RCS。近场散射测量系统具有测试距离短、测试结果精度高、信息量大、保密性强和可全天候工作的特点,可提供在1GHz至40GHz频率范围内的高质量的RCS测试结果。
系统组成:
紧缩场测试系统主要包括测量天线及支架、矢量网络分析仪/信号放大器及转台、测试转台、屏蔽暗室(室外用的系统不用屏蔽室)以及控制系统。
系统功能:
单频点转角RCS测试;固定角度扫频RCS测试;转角扫频RCS测试;目标一维成像、二维成像测试;
功能特点
• 具备近远场变换RCS测试功能
• 全尺寸测量
• 高效成像与诊断
• 具备水平线性扫描-SAR(2D雷达成像顶视图)
• 具备垂直线性扫描-SAR(2D雷达成像侧视图)
• 具备二维平面扫描-SAR(3D雷达成像)
• 具备目标方位轴旋转-ISAR(2D雷达成像)
典型指标
• 极化方式:水平、垂直
• RCS测试精度:±1dB@-30dBsm 0.1- 3GHz
• RCS测试精度:±1dB@-40dBsm 2 - 40GHz
• *小可测RCS: <-50dBsm @35m10 - 40GHz,<-60dBsm @35m 1 - 10GHz
待测物的*大尺寸
• 小型:0.5~2m
• 中型:2~5m
• 大型:5~12m及以上
服务热线:0755-86576202,13670106433
深圳市科联大科技有限公司
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