CF-00140G-RCS-01A   0.1 - 18GHz 
 
      CF-01040G-RCS-01A   1 - 40GHz

KELIANDA 0.1-40GHz近(远)场散射测量（RCS）系统

产品概述

我们为客户的应用场景、测试需求及场地实况为客户提供定制化的近(远)场散射测量系统。测量系统利用定位设备采集近场散数据，目标的辐射近区内进行散射数据采集，通过高效的近远场变换算法获得目标的远场RCS。近场散射测量系统具有测试距离短、测试结果精度高、信息量大、保密性强和可全天候工作的特点，可提供在1GHz至40GHz频率范围内的高质量的RCS测试结果。

系统组成：

紧缩场测试系统主要包括测量天线及支架、矢量网络分析仪/信号放大器及转台、测试转台、屏蔽暗室（室外用的系统不用屏蔽室）以及控制系统。

系统功能：

单频点转角RCS测试；固定角度扫频RCS测试；转角扫频RCS测试；目标一维成像、二维成像测试；

功能特点

•       具备近远场变换RCS测试功能

•       全尺寸测量

•       高效成像与诊断

•       具备水平线性扫描-SAR（2D雷达成像顶视图）

•       具备垂直线性扫描-SAR（2D雷达成像侧视图）

•       具备二维平面扫描-SAR（3D雷达成像）

•       具备目标方位轴旋转-ISAR（2D雷达成像）

典型指标

•       极化方式：水平、垂直

•       RCS测试精度：±1dB@-30dBsm  0.1- 3GHz

•       RCS测试精度：±1dB@-40dBsm  2 - 40GHz

•       *小可测RCS： ＜-50dBsm @35m10 - 40GHz，＜-60dBsm @35m 1 - 10GHz

待测物的*大尺寸

•       小型：0.5~2m

•       中型：2~5m

•       大型：5~12m及以上
服务热线:0755-86576202,13670106433

深圳市科联大科技有限公司  

www.kelianda.com